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| 分析できること |
電子線を細く絞り、試料に照射して発生する Ｘ線の波長、強度を調べ、微小領域の定性・ 定量分析を行う装置。カラーマッピングも可 能。
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| 分析原理 |
化合物から電子1個を取り出しプラスイオンの状態にし、それを一定の速度に加速して磁場の中を
通過させた場合にイオンは磁場の影響を受け軽いものは直ぐに曲げられ、重いものは曲げられにくいという性質がある。
そのような性質を利用して、磁場の強さを変えながら、その時々で半径ｒの軌道を通過するイオンの種類と量を一つの検出器でキャッチする。
それをコンピュータで処理することによりイオンの分子量やフラグメントイオンの値が得られる。
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| 必要なこと、注意点 |
SEM像のみ必要な場合は走査型電子顕微鏡SEMなどを使用する。 本装置によるSEM像は専用機ほど鮮明ではない。
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| 迷惑な試料、困った試料 |
潮解性、多孔性、揮発性あるいは強磁性を有する試料、水、油を含有する
試料、フィルム等の薄膜上の試料は測定できない。
帯電しやすい試料は、必ずカーボン蒸着など処理が必要。
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