九州工業大学 機器分析センター

                                                  ◎利用可能  ○条件付利用可能
装 置 名 機 種 依頼
分析
装置
利用
仲介
可能
管理者
高分解能質量分析装置 JEOL JMS-SX102A     山口
核磁気共鳴装置 I 500M JEOL JNM−A500型     国末
核磁気共鳴装置 II 400M ブルカー AVANCE400S型    
固体NMR 300M ブルカー AVANCE300wbs     
広領域固体NMR サムウェイ PROT3000MR     
透過型電子顕微鏡 日立 H-9000NAR     若山
焦束イオンビーム装置(FIB) 日立 FB-2000A     若山
粉末X線回折装置
(薄膜・高温・微小部回折可)
JEOL JDX3500K     山本
FT・IR ニコレー Maguna760    
電子スピン共鳴装置 ESR JEOL JES-RE2X型    
汎用基礎物性測定装置:SQUID カンタムデザイン社 MPMS-5SE型    
光散乱光度計 大塚電子 DLS-7000L    
複合表面分析装置  ESCA 島津 AXIS-HS (機種変更)     武尾
蛍光X線分析装置 嶋津 XRF1700WS     山本
有機元素分析装置 ヤナコ MT-5     武尾
ICP発光分光分析装置 嶋津 ICPS-8000    
遊星ボールミル フリッチュ  P5    
ガス分析用 FT-IR 日本分光650 Plus    
FE-SEM + EBSP JSM6500F+Pegasus2300(TSL)     白石
全自動ガス吸着量測定装置 Quantachrome Autosorb-1C/MS    

        ○装置管理者に名前の記載されている装置は依頼分析可能です。
        分析試料などは全て前処理済みであること。分析方法の指定があることなどの条件が付きます。

        ○装置管理者に名前の記載されていない装置についても専門委員と相談の上分析可能な場合もあります。
        機器分析センター事務、センター長にご相談ください。