九州工業大学 機器分析センター

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　◎利用可能　　○条件付利用可能
装　置　名 機　種 依頼
分析		 装置
利用		 仲介
可能		 管理者
高分解能質量分析装置 JEOL　JMS-SX102A ◎     山口
核磁気共鳴装置 I　500M JEOL　JNM−Ａ500型 ◎     国末
核磁気共鳴装置 II　400M ブルカー　AVANCE400S型 ◎     〃
固体ＮＭＲ　300M ブルカー　AVANCE300wbs　   ○   −
広領域固体ＮＭＲ サムウェイ　PROT3000MR　   ○   −
透過型電子顕微鏡 日立　H-9000NAR ◎     若山
焦束イオンビーム装置(FIB) 日立　FB-2000Ａ ◎     若山
粉末Ｘ線回折装置
（薄膜・高温・微小部回折可）		 JEOL　JDX3500K ◎     山本
FT・IR ニコレー　Maguna760   ○   −
電子スピン共鳴装置　ESR JEOL　JES-RE2X型   ○   −
汎用基礎物性測定装置：SQUID ｶﾝﾀﾑﾃﾞｻﾞｲﾝ社　MPMS-5SE型   ○   −
光散乱光度計 大塚電子　DLS-7000L   ○   −
複合表面分析装置 　ESCA 島津 AXIS-HS　(機種変更) ◎     武尾
蛍光Ｘ線分析装置 嶋津　XRF1700WS ◎     山本
有機元素分析装置 ヤナコ　MT-5 ○     武尾
ICP発光分光分析装置 嶋津　ICPS-8000   ○   −
遊星ボールミル フリッチュ　　P5   ○   −
ガス分析用　FT-IR 日本分光650 Plus   ○   −
FE-SEM + EBSP JSM6500F＋Pegasus2300(TSL) ◎     白石
全自動ガス吸着量測定装置 Quantachrome Autosorb-1C/MS   ○   −

　　　　　　　 ○装置管理者に名前の記載されている装置は依頼分析可能です｡
　　　　　　　 分析試料などは全て前処理済みであること｡分析方法の指定があることなどの条件が付きます｡

　　　　　　　 ○装置管理者に名前の記載されていない装置についても専門委員と相談の上分析可能な場合もあります｡
　　　　　　　 機器分析センター事務､センター長にご相談ください｡