全登録機器一覧

    

● 登録機器一覧表・利用料金
登録機器一覧(学内利用)
登録機器一覧(学外利用)

● 登録機器紹介

機種名 装置場所
高分解能質量分析装置 日本電子JMS-SX102A 有機物構造解析室
核磁気共鳴装置 500M ブルカー・バイオスピン AVANCEVHD500 有機物構造解析室
核磁気共鳴装置 400M ブルカーAVANCE400S 有機物構造解析室
広帯域固体NMR サムウェイPROT3000MR 教育研究7号棟1階
多目的透過電子顕微鏡 日本電子JEM-F200 微細構造解析室
集束イオンビーム装置(FIB) 日立FB-2000A 微細構造解析室
単結晶X線自動構造解析装置 ブルカーSMART APEXUKY X線構造解析室
全自動水平型多目的X線回折装置 リガクSmartLab
X線構造解析室
電界放出型電子線マイクロアナライザ 日本電子JXA-8530F X線構造解析室
電子スピン共鳴装置 ESR
(固体試料用核四重極共鳴測定装置 ) 日本電子JES-RE2X
教育研究7号棟1階
汎用基礎物性測定装置:SQUID
(超伝導量子干渉素子磁束計) カンタムデザインMPMS-5SE
基礎物性測定室
汎用基礎物性測定装置:SQUID
(超伝導量子干渉素子磁束計) カンタムデザインMPMS-XL7AC
基礎物性測定室
蛍光顕微鏡 情報工学部
総合研究棟1階
円二色性分散計 日本分光J-500A
フーリエ変換型 蛍光分光光度計 日本分光FP-6500
FT−IR (フーリエ変換赤外吸収装置) 日本分光 FT/IR-615
光電子分光分析装置 島津/KRATOS AXIS-NOVA 表面分析室
比表面積計(BET)(全自動ガス吸着量測定装置)
QuantachromeAutosorb-1C/MS (調整中)
分光分析室
結晶方位測定解析装置 FE-SEM 日本電子JSM-7000F、EBSD X線元素分析室
3次元走査型電子顕微鏡+EDS (3次元粗さ解析装置)
エリオニクスERA-8800
X線元素分析室
超微小硬度計 エリオニクスENT-1100a クリーンルーム
電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM) 日本電子 JSM-6701F X線元素分析室
蛍光X線分析装置XRF 島津XRF1700WS X線構造解析室
有機元素分析装置CHN ヤナコMT-5 元素分析室
ICP発光分光分析装置ICP(誘導プラズマ発光分析)
島津ICPS-8000
元素分析室
炭素・硫黄同時分析装置CS LECO CS-444 元素分析室2
原子吸光光度計 島津AA-6200 (休止中) 試料準備室
温熱環境試験機 (休止中) 温熱環境試験室
材料基礎実験用熱分析装置 (調整中)
TG   リガクTG・DTA-8120H
DTA  リガクDSC-8270
DSC  ArthurD.Little
温熱環境試験室
卓上型高周波溶解炉 美和製作所MU-1700D 教員実験室
アークメルト溶解炉 日新技研NEV-AD 試料作成室
熱電特性評価装置 ZEM-1 試料作成室
遊星ボールミル フリッチュ モデルP5 試料作成室
小型卓上万能試験機 島津EZ Test 宇宙環境技術研
液体窒素タンク 容器保管室
デジタルマイクロスコープ キーエンスVHX-900 微細構造解析室1
光学工業用顕微鏡 ニコン 温熱環境実験室